assembly 测试$x，%dil与测试$x，%edi

2fjabf4q 于 2022-12-19 发布在其他

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我想测试一个寄存器中的一个位，即%rdi中倒数第二低的位，我会很天真地写test $2, %edi（或者and $2, %edi--我不知道and ing是否更好--寄存器的其余部分在这里是无关紧要的）。
我检查了clang和gcc生成了什么（对于一个虚拟的void TEST(long X){ if(X&2) abort(); }），虽然它们似乎类似地在test和and上分裂，但它们都同意通过%dil而不是%edi寻址寄存器，这让我感到惊讶。
这可能是什么原因呢？

assembly

来源：https://stackoverflow.com/questions/74791304/test-x-dil-vs-test-x-edi

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按热度按时间

f5emj3cl1#

两种方法除了代码长度外具有相同的性能;与例如test $2, %bh不同，阅读低8位部分寄存器从不具有任何损失;阅读高8位寄存器具有extra latency on Haswell and later，但仍能节省代码大小，并且不会损害前端吞吐量。

没有test $sign_extended_imm8, r/m32，因此使用8位操作数大小可以节省代码大小，即使它需要雷克斯前缀来编码DIL。（https://www.felixcloutier.com/x86/test）

由于在测试之后不需要x的值，因此实际上可以使用and $imm8, %edi（3字节）以保存代码大小，但and/jnz无法在AMD CPU上进行宏融合，或在Sandybridge之前无法在Intel上进行宏融合，所以编译器更喜欢只写FLAGS。我想没有人s实现了窥视孔优化，即在以后不需要寄存器时使用and而不是test与-mtune=sandybridge。

0:   f7 c7 02 00 00 00       test   edi,0x2    # imm32 = 2
   6:   40 f6 c7 02             test   dil,0x2    # REX prefix with no bits set
   a:   f6 c7 02                test   bh,0x2     # same byte without REX

   d:   83 e7 02                and    edi,0x2
  10:   40 80 e7 02             and    dil,0x2
  14:   80 e7 02                and    bh,0x2

  17:   0f ba e7 02             bt     edi,0x2    # can't macro-fuse with JCC

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